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超细粉体粒度细度检测之电阻法(库尔特颗粒计数器)
发布者:admin  发布时间:2016-5-18 19:08:01  点击:2098
超细粉体粒度检测的方法我们已经介绍过激光衍射散射法(激光粒度分析仪),离心沉降法和颗粒图像处理仪的方法,今天无锡臣力粉体设备有限公司给大家介绍最后一种方法,超细粉体粒度细度检测之电阻法也叫做库尔特颗粒计数器方法。
        库尔特计数器其原理基于小孔电阻原理,即当小孔内有颗粒通过时,会引起小孔两端的电阻发生变化。不同粒径的颗粒引起的电阻变化不同,电阻增量正比于颗粒体积。当电源是恒流源时,两极之间会产生一个电压脉冲,其峰值正比于小孔电阻的增量,也正比于颗粒体积。只要准确测量出每一个电压脉冲的峰值,即可计算出各个颗粒的大小,并统计出粒度分布。
电阻法的特点:
1、分辨率高,是现有各种粒度测定仪中最高的。
2、测量速度快,测定一个样品一般只需15分钟左右。
3、重复性好,每次要测量1万个左右的颗粒,代表性较好。
4、操作简单,认为误差影响小。
电阻法测量的主要缺点为:
1、动态范围较小,对同一个小孔管,动态测量范围为20:1.
2、容易发生堵孔故障,使测量不能继续进行。
3、测量下限不够小,小孔越小,越容易发生堵孔,对电解质的杂质含量要求严格,一般测量下限为1um。
        无锡臣力粉体设备有限公司专业生产粉体混合、球磨设备,欢迎各地客户到我公司实地考察选购。
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